Focused ion beam milling: A method of site-specific sample extraction for microanalysis of Earth and planetary materials
Por: Heaney, Peter J.
Otros Autores: Vicenzi, Edward P | Giannuzzi, Lucille A | Livi, Kenneth J.T.
Tipo de material: Artículo de revista Editor: Washington, D.C.: Mineralogical Society of America, September 2001Descripción: pp. 1094-1099 ilus.Tema(s): MICROANALISIS | MICROSCOPIA ELECTRONICA | ULTRAMICROTOMIA En: Mineralogical Society of America, American Mineralogist, v.86, n.9, September 2001Tipo de ítem | Ubicación actual | Colección | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Artículo de revista | Biblioteca INGEMMET | Disponible | 13307 | |||
Publicación periódica | Biblioteca INGEMMET | Hemeroteca | Disponible | 1633 |
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